だから計測方法を増やし続けています。ワイ・システムズでは、材料特性の測定再現性と感度について両方とも最先端技術を目指します。その場観察、外部測定でも、研究のためから生産用全自動測定装置を提供します。
製品案内はこちら代表製品 YWafer GS4 に新構成が加わりました。2006年から提供されているこのモデルは、PL、反射率、透過率、さらには曲率測定までをカバーし、デスクトップサイズのYWAFER-GS4(54x54 cmのフットプリント)または、外部のレーザーソースをサポートするためのYWAFER-GS4-DESKフォーマットがあります。そして、新たに、デスクトップ版とデスク版の中間に位置する YWAFER-GS4-ELBASE を提供しています。このモデルは、デスクトップ版と同じく非常にコンパクトながらも、電気モジュールと制御PCも内蔵された自立設計の実現です。