On ne peut améliorer
sans mesurer...
C'est pourquoi nous continuons de rajouter à ce que l'on peut mesurer, et mettons tout en œuvre pour vous offrir la fine pointe en sensibilité et en reproductibilité pour la métrologie automatisée des matériaux, ex situ et in situ.
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Évènements et nouvelles récentes
2021.11.20: Merci de votre visite à CS International 2021
Ce fut un plaisir d'avoir pu discuter avec tant d'experts dans le domaine les récents résultats de notre R＆D à YSystems. Pour ceux qui n'ont pas pu se présenter, voici ici-bas la présentation complète.
Lire la suite...2021.11.07-10: CS International Conference
Venez nous rendre visite à Bruxelles lors de la Conférence CS International!
2020.11.09: Conférence CS Live II
Allez voir la conférence du Dr. Lacroix pour la CS Live II du mois de novembre 2020, intitulée "Beyond the PL Mapper".
- 1-3-4 HIgashi-Okinosu, Tokushima, Japon
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